膜厚儀的基本工作原理與測(cè)量模式

來(lái)源:林上科技   發(fā)布時(shí)間:2019/05/07 13:42  瀏覽:17486
林上膜厚儀,根據(jù)渦流測(cè)厚和磁性測(cè)厚的測(cè)量原理,可在自動(dòng)識(shí)別模式下,自動(dòng)識(shí)別測(cè)量的基材,并且快速自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量模式。

林上科技的膜厚儀又叫膜厚測(cè)試儀,符合了(GB/T 4957-2003)中的渦流法以及(GB/T 4956-2003)中的磁性法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。

1、其中渦流測(cè)厚的原理,是利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生的電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)頭和覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上就會(huì)產(chǎn)生電渦流。并且會(huì)對(duì)測(cè)頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生了反饋的作用,然后通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮?lái)導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

渦流測(cè)厚原理的膜厚儀,適用于非磁性金屬基體上(銅、鋁、黃銅等)非導(dǎo)電涂層的測(cè)量(如涂料、陽(yáng)極氧化層等)。如航天航空器表面、車(chē)輛等及其它鋁制品表面的油漆,陽(yáng)極氧化膜等。

2、而磁性測(cè)厚的原理,是當(dāng)測(cè)頭和覆蓋層接觸時(shí),測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成的一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,會(huì)使磁路磁阻發(fā)生變化,根據(jù)變化就可以測(cè)出涂層的厚度。

磁性測(cè)厚原理的膜厚儀,適用于鐵磁性金屬基體上(鋼、鐵等)等非磁性涂層的測(cè)量。

林上的膜厚儀LS220結(jié)合了渦流測(cè)厚和磁性測(cè)厚的原理,有鐵基測(cè)量(Fe)模式,非鐵基測(cè)量(NFe)模式以及自動(dòng)識(shí)別(Fe/NFe)模式,另外,在自動(dòng)識(shí)別模式下,儀器自動(dòng)識(shí)別測(cè)量的基材,并且快速自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量模式。

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